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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:多表面測量

  • 產(chǎn)品型號:Verifire? MST
  • 產(chǎn)品廠商:美國ZYGO
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
只要一次數(shù)據(jù)采集,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學厚度
詳情介紹:

Verifire? MST多表面測量

Verifire? MST激光干涉儀提供了一個****的嶄新的測量方式和能力,傳統(tǒng)的激光干涉儀應(yīng)用是測量兩個面的波前變化,也就是說測量一個由兩個面所形成的腔。但是,如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板,則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋(三個面的腔所形成),這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析?,F(xiàn)在,ZYGO的Verifire? MST激光干涉儀解決了這一個問題,通過波長調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉變換方法,可以進行三個甚至四個平行面的測量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

三平面干涉測量

激光干涉儀可以在你的測量中,只要一次數(shù)據(jù)采集,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學厚度:

?前表面形貌圖

?光學厚度變化

?物理厚度變化和后表面形變

四表面干涉測量

這一技術(shù)能夠通過兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結(jié)果:

?前表面和后表面的形貌圖

?物理厚度變化

?光學厚度變化

?折射率變化
-非線性材料均勻性
-線性材料均勻性

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