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ZYGO新品_VFA+干涉儀來(lái)啦,全新的計(jì)量方案了解一下
新品發(fā)布
__*快速的非球面自由曲面測(cè)量解決方案
ZYGO于2021年10月18日在美國(guó)羅徹斯特國(guó)際光學(xué)產(chǎn)品技術(shù)展 (SPIE Optifab)中,推出了其全新一代的Verifire Asphere+非球面激光干涉儀(簡(jiǎn)稱(chēng)VFA+),并展示了*新的計(jì)量技術(shù)方案。
*新的VFA+長(zhǎng)這樣
VFA+建立在上一代Verfire Aphere非球面干涉儀成功的基礎(chǔ)之上,基于拼接技術(shù),使用標(biāo)準(zhǔn)球面標(biāo)準(zhǔn)鏡及干涉儀主機(jī),就可以快速、非接觸、高分辨率地測(cè)量出軸向?qū)ΨQ(chēng)的非球面表面形貌。
VFA+具備非球面測(cè)試能力的同時(shí),也是一個(gè)高精度曲率半徑測(cè)試平臺(tái)。其專(zhuān)業(yè)的設(shè)計(jì),能非常有效地隔絕環(huán)境震動(dòng)和氣流擾動(dòng)的影響,使其光學(xué)器件曲率半徑的測(cè)試重復(fù)性達(dá)到百納米的級(jí)別。
VAF+能完全覆蓋一臺(tái)高精度和穩(wěn)定的立式球面/平面激光干涉儀,基于其六個(gè)維度(X平移、Y平移、傾斜、俯仰、高低、旋轉(zhuǎn))全自動(dòng)調(diào)整的樣品臺(tái),用戶(hù)可以自主完成全自動(dòng)化的測(cè)試腳本程序。
除了擁有以上這些上一代Verfire Aphere已有的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)之外,新的VFA+更新了強(qiáng)大的Mx軟件(??點(diǎn)擊“Mx軟件”了解更多詳情),采用了更穩(wěn)定可靠的測(cè)量倉(cāng)設(shè)計(jì),更重要的是:
VAF+可以高速批量檢測(cè),包括自由曲面在內(nèi)的非球面光學(xué)器件。
VFA+圖示??
ZYGO的VFA+集成了一個(gè)可選的工作臺(tái),用于放置轉(zhuǎn)換波前的全息板 (CGH)(??點(diǎn)擊“全息板(CGH)”了解更多詳情)?;贑GH,VFA+可以測(cè)試包括自由曲面在內(nèi)的各類(lèi)非球面,包括樣品校準(zhǔn)在內(nèi)的測(cè)樣過(guò)程,單次在十幾秒內(nèi),就可以測(cè)得非球面3D相貌(百萬(wàn)像素級(jí)數(shù)據(jù)密度),可以適用于各類(lèi)自由曲面、圓柱及離軸圓錐曲面。
這一全新的技術(shù)方案,將打開(kāi)大規(guī)模批量柔性光學(xué)制造技術(shù)的大門(mén)。從此,非球面光學(xué)加工質(zhì)量控制將變得更容易執(zhí)行,且更具有成本效益。
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