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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:非球面輪廓儀

  • 產(chǎn)品型號:Form Talysurf PGI Optics
  • 產(chǎn)品廠商:英國TAYLOR HOBSON
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
Form Talysurf PGI Optics 鏡頭測量的準(zhǔn)確性和多樣性的標(biāo)桿。測量球面、非球面輪廓和衍射,結(jié)果值得信賴。 *新的測量儀設(shè)計(jì),改進(jìn)了測量距離—*遠(yuǎn)可達(dá)28mm *新的擺動裝置長度可達(dá)300mm, 可用于連續(xù)測量 *快速、簡單的校準(zhǔn)程序可以通過定期的儀器校準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)良好的計(jì)量操作
詳情介紹:

Form Talysurf PGI Optics

用于精密光學(xué)元件的*高精度測量儀器

自從1984年**發(fā)布以來,F(xiàn)orm Taylsurf迅速成為測量非球面形狀誤差的光學(xué)制造商的優(yōu)選。

從那以后,我們在全球范圍內(nèi)安裝了數(shù)千臺儀器,使得Talysurf PGI成為真正的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

我們的磚利PGI(相位光柵干涉儀)技術(shù)使您能夠利用短測針測量大尺寸凹透鏡,實(shí)現(xiàn)*高精度的測量。

Taylor Hobson制造的這些觸針具有高剛度和低力度雙重優(yōu)勢,與同類產(chǎn)品相比,帶來更佳的精度和重復(fù)性。

*容易編程

*一鍵測量

*快速、**

*針對生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì)

*強(qiáng)大的分析工具提高您的產(chǎn)能和生產(chǎn)率

*省時(shí)的軟件功能

*自動化軟件程序帶來可重復(fù)的高精度測量

*致力于光學(xué)計(jì)量

*新的寬量程測量儀:可測量大尺寸凹透鏡,精度保持不變

 

測量儀量程:14 / 28mm

系統(tǒng)噪聲:   <2nm Rq        

測量:     直徑可達(dá)300mm(單軌跡測量)

形狀誤差:  <100nm

*60mm/120mm觸針

 

致力于光學(xué)計(jì)量

滿足下一代光學(xué)元件不斷增長的需求

深入的非球面衍射分析:

*輕松分析超過500個區(qū)帶的復(fù)雜衍射

*通過與設(shè)計(jì)直接對比來識別區(qū)帶直徑

*輸出衍射形狀誤差用于刀具路徑校正

 

快速X偏移校正的獨(dú)特解決方案:

*顯著縮短SPDT設(shè)置時(shí)間

*X偏移和形狀誤差可通過單一分析校正

*提高速度,節(jié)省時(shí)間

 

大直徑光學(xué)元件:

*技術(shù)優(yōu)越的單軌跡測量,長度可達(dá)300mm

*在300mm的全長內(nèi)達(dá)到上等的平直度

*SAG>28mm

 

散光分析:

*易于編程,使用程序來判定部件中是否存在散光

*輸出平均輪廓用于刀具路徑校正

*三維殘余表面生成,帶來先進(jìn)的更正

 

配件:

自動化機(jī)動工作臺保證精度:

*增加Y和/或旋轉(zhuǎn)式機(jī)動工作臺,與一個精密的傾斜中央工作臺配合使用

*輕松編寫程序?yàn)閱蝹€或多個徑向軌跡測量提供選項(xiàng)

*自動化散光分析—結(jié)合多個徑向軌跡測量來查看散光

*確保多個不同的操作員使用時(shí)也能獲得一致的**測量。

 

Form Talysurf PGI Matrix

全自動化的快速、**的系統(tǒng)用于批量光學(xué)元件測量

易于安裝、測試和分析單個或多個部件,使其成為快速、準(zhǔn)確測試光學(xué)元件的理想系統(tǒng)。

Form Talysurf PGI Matrix的增強(qiáng)功能和軟件架構(gòu)支持移動設(shè)備鏡頭、眼科透鏡、醫(yī)療和光纖、高功率LED和晶片透鏡陣列的高速測量

提高測量一致性和準(zhǔn)確性,同時(shí)縮短測量循環(huán)時(shí)間。Form Talysurf PGI Matrix提供一站式解決方案。

*容易編程

*簡單易用

*超快速

*全自動

*專門針對生產(chǎn)環(huán)境

*Form Talysurf PGI Matrix包含一個高精度旋轉(zhuǎn)式Y(jié)軸臺用于**、自動化的部件定位。

 

測量儀量程:28mm

噪聲:      <4nm Rq 

測量:     單一或多部件測量

形狀誤差:  <100nm

 

針對生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì):

節(jié)省時(shí)間和**,不會損失精度

簡單的復(fù)雜陣列設(shè)置、測量和分析:

*選擇部件設(shè)計(jì)來定義陣列布局。

—低密度、PCD、晶片等

*輕松選擇測量和分析數(shù)據(jù)的格式,可以選擇將結(jié)果存儲在選擇的位置

*選擇存儲結(jié)果的位置

*選擇要測量的“批”

*有關(guān)測量通過/失敗的實(shí)時(shí)反饋,并提供清晰的指示

*自動分析顯示批結(jié)果統(tǒng)計(jì)

—允許瀏覽單個部件結(jié)果

*定義完整的脫機(jī)測量并傳輸?shù)絻x器進(jìn)行測量

*只需傳輸結(jié)果文件夾便可脫機(jī)查看和重新分析已完成的測量。

 連續(xù)測量

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