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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:非球面輪廓儀

  • 產(chǎn)品型號:LuphoScan
  • 產(chǎn)品廠商:英國TAYLOR HOBSON
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(shù)(MWLI?)的干涉式掃描測量系統(tǒng)。 它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設(shè)計,例如非球面光學(xué)透鏡、紅外鏡片、紅外光學(xué)、紅外透鏡等產(chǎn)品。
詳情介紹:

LuphoScan系統(tǒng)能夠為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測量提供*佳效益:

*對任何旋轉(zhuǎn)對稱的表面的深入分析: 非球面、球面、平面和自由曲面

*超高、可重復(fù)精度:≦±50nm

*可測量任何材料:透明、鏡面、不透明、拋光、研磨

*大球面的偏離: 不受限制。例如:能夠測量盤式或者鷗翼表面,以及彎曲點的輪廓

*大斜坡: 可達(dá)90°(例:半球測量)

*高靈活度:測量局部面、環(huán)形光學(xué)透鏡、矩形表面、衍射面結(jié)構(gòu)表面、錐透鏡

*完整透鏡特征:透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置

*直徑:120mm、260mm或者420mm

*高速測量:

例:1:58分(¢=30mm,Roc=60mm,100點/mm2)

或者5:29分(¢=130mm,Roc=150mm,50點/mm2)

  

                  

LuphoScan測量平臺上被測物傳感器的移動軸                   The LuphoScan測量平臺

  

基于多波長干涉技術(shù)的光學(xué)計量應(yīng)用

特征

 

與其設(shè)計非球面的形狀偏差

 

特殊的基準(zhǔn)概念能夠提供 *高精度測量

 

測量精度

該系統(tǒng)使用了復(fù)雜的參考傳感器以及特殊的基準(zhǔn)框架概念,能夠確保*高精度的測量結(jié)果,精度可在±50nm(2σ)以上。

基準(zhǔn)框架概念

每一臺LuphoScan測量平臺均由殷鋼基準(zhǔn)框架組成,這是一種開放式回路技術(shù)框架。三個參考傳感器和一個圓柱軸、兩個平面反射鏡能夠確保在框架內(nèi)物體傳感器的位置。根據(jù)阿貝(Abbe)原理,這一概念能夠?qū)C(jī)械軸R、Z、T**階誤差進(jìn)行補(bǔ)償?;鶞?zhǔn)框架概念與極高精度的多波長干涉技術(shù)(MWLI®)相結(jié)合,超高精度C軸臺能夠確保形狀測量精度高于±50nm(2σ),并且重復(fù)測量精度高于±20nm (2σ).

光學(xué)透鏡放置

測量平臺的默認(rèn)設(shè)置配有液壓膨脹夾具,可直接對生產(chǎn)過程中夾具上的透鏡進(jìn)行測量。將所要測量的透鏡安裝好,緊固在膨脹夾具上,啟用之前設(shè)置好的測量程序,然后開始測量。整個過程僅需要不到一分鐘的時間。此解決方案的精度調(diào)整適用于對于所有標(biāo)準(zhǔn)測量情況,能夠?qū)颖緝A斜和移位進(jìn)行自動識別和校正。未鑲邊框的透鏡可以使用三爪夾具(可選)安裝。

 

校準(zhǔn)

所有所需的參考物體都包括在內(nèi)。校準(zhǔn)程序過程中,用戶可控制操作平臺對溫度適應(yīng)的變化。完整的校準(zhǔn)過程大約需要15分鐘左右。

 

圖:

基準(zhǔn)框架

花崗巖基座

   基準(zhǔn)框架、傳感器臺(R, Z,T)布局圖和物體臺(C)

 

                        LuphoScan軟件屏幕截圖

直觀軟件設(shè)計便于操作和數(shù)據(jù)分析

數(shù)據(jù)輸入與測量過程

LuphoScan測量平臺配有的軟件能夠用于控制整個系統(tǒng),包括預(yù)設(shè)測量程序、分析測量結(jié)果和打印測試報告。開始測量時,需要輸入一個關(guān)于測量表面描述,例如:輸入曲率半徑、圓錐常數(shù)或者測試部件的偶次或奇次非球面系數(shù)。隨后軟件會顯示被測物傳感器軌跡,能夠直接檢測是否輸入了正確的描述。此外,該軟件還能對SAG表格提供*為直接的對比方法。用戶可對數(shù)據(jù)空間分辨率進(jìn)行調(diào)節(jié),程序能夠?qū)Υ颂峁p少測量時間的*佳辦法。測量過程中,屏幕還會顯示剩余測量時間。

數(shù)據(jù)分析

當(dāng)一次測量結(jié)束后,會直接顯示誤差圖的三維影像和剖面圖。同時還提供不同的工具選擇對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。傾斜和偏移補(bǔ)償,以及*佳擬合減法(球面或者非球面)能夠分別開啟和關(guān)閉。其它更多功能還包括光圈的精密調(diào)整,以及不同濾波器的選擇,例如低通濾波器或者高通濾波器。濾波器能夠消除由塵埃顆粒帶來的波峰等等。得出的數(shù)據(jù)可用于解釋拋光或者研磨后的表面(測量后)。誤差可以用垂直于理想表面或者平行于光軸的方式來表述。當(dāng)然,還能夠顯示所有標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù),包括Power、PV, RMS和Zernicke等的數(shù)值。

數(shù)據(jù)導(dǎo)出

測量數(shù)據(jù)能夠以3D形式或者2D輪廓線顯示出來。除此之外,本機(jī)軟件形式X、Y、Z、dN或者dZ (3D)、X、Z、dN或者dZ (2D)等多種形式可供使用。例如,數(shù)據(jù)能夠通過Zygos MetroPro XYZ形式(3D)和Taylor Hobsons MOD和PRF形式(2D)導(dǎo)出。這些形式能夠直接用于生產(chǎn)線,例如:對拋光過程進(jìn)行修正。

應(yīng)用

 

 

LuphoScan技術(shù)能夠發(fā)揮*大靈活性

主要應(yīng)用領(lǐng)域

LuphoScan測量系統(tǒng)用于測量可旋轉(zhuǎn)的對稱表面的3D拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。測量工作臺的設(shè)計能夠確保測量大多數(shù)的透鏡,而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀(平頭)、傾斜或者反射點圖的限制。在標(biāo)準(zhǔn)操作模式下,需要提供測試表面的理論描述,這些描述一般取決于曲面半徑、圓錐形常數(shù)以及球面系數(shù)(偶次與奇次)。測量平臺軟件包默認(rèn)設(shè)置包含了拋光和粗磨元件的測量。

粗磨透鏡

獨特的多波長干涉技術(shù)(MWLI)能夠?qū)崿F(xiàn)粗糙表面(如粗磨透鏡)的測量。同一測量平臺能夠滿足從 毛坯到超高精度頭透鏡的各項指標(biāo)的測量。

特殊形狀

盡管儀器專為測量旋轉(zhuǎn)對稱部件而設(shè)計的,但其仍舊能夠測量偏差較小的球面、非球面或者平面等自由表面部件。例如橢圓體的X射線透鏡或者光束整形元件。

更多應(yīng)用

除了標(biāo)準(zhǔn)的測量應(yīng)用外,還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴(kuò)展工具LuphoSwap不同擴(kuò)展功能,來完成多種光學(xué)要素特征的測量(參見第8-9頁)。該工具能夠輔助測量透鏡厚度,以及楔形與偏心誤差。除此之外,額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡,如分段表面包括矩形部件、環(huán)形透鏡、有衍射階量。梯的表面和錐透鏡(參考10-11頁的目錄)。

 

 

  局部透鏡測量

 

                           安裝了LuphoSwap透鏡夾具的LuphoScan 260

 

使用LuphoSwap擴(kuò)展功能完成對光學(xué)部件形狀誤差特性的測量

成就:

LuphoScan 260和LuphoScan 420測量平臺可以應(yīng)用LuphoSwap的擴(kuò)展功能,來對透鏡兩個表面的所有特征進(jìn)行連續(xù)的測量。一個特殊的測量概念能夠?qū)蓚€表面的測量結(jié)果相關(guān)聯(lián)起來。這個概念就是在測量形狀誤差的同時,LuphoSwap能夠確定透鏡兩側(cè)表面的**的厚度、楔形度和偏心度誤差以及旋轉(zhuǎn)定位。此外,還能夠確定透鏡底座位置。這個強(qiáng)大的軟件工具功能來自于LuphoSmart傳感器技術(shù),一個獨特的概念模式,以及額外的(跳動)基準(zhǔn)傳感器。

測量原理:

在標(biāo)準(zhǔn)的操作模式下,輸入兩側(cè)表面的理論描述(包括Roc、錐面常數(shù)和非球面常數(shù))。所需測量的透鏡安裝在特殊的LuphoSwap底座上,然后可進(jìn)行**個表面的測量。隨后,放在透鏡的支架會被翻轉(zhuǎn)(如圖所示),開始進(jìn)行另一個表面的測量。除標(biāo)準(zhǔn)掃描程序外,被測物傳感器會用于測量每個表面對于校準(zhǔn)的LuphoSwap支架的精準(zhǔn)定位。這樣軟件就能自動定義所有的幾何參數(shù)(厚度)和被測透鏡的誤差(形狀、楔形度和偏心度)。因此,使用該軟件和使用標(biāo)準(zhǔn)LuphoScan測量平臺測量透鏡一樣容易。

 

 

測量精度

從0到90度角度的錐透鏡非球面衍射透鏡環(huán)形球面

 

通過軟件附加項增強(qiáng)測量的靈活性

模式1:局部透鏡

此模式用于測量局部透鏡,例如矩形透鏡。測量平臺能夠控制位移臺確保連續(xù)的螺旋式掃描,并能夠自動識別和忽略來自非被測物體的信號。

?基礎(chǔ)面形狀:非球面、球面、平面

?形狀測量精度: ±50nm(2σ)

?自動化表面屏蔽

?可與“環(huán)形透鏡”和“錐透鏡”模式相結(jié)合使用

 

 

局部非球面與設(shè)計曲面的偏差

 

LuphoScan測量平臺的幾個附加軟件功能能夠?qū)Σ煌愋汀⒎沁B續(xù)的光學(xué)透鏡進(jìn)行直接測量。這些測量模式主要基于完整的多波長干涉技術(shù)(MWL1)。它們能夠進(jìn)行局部透鏡、環(huán)形透鏡、錐透鏡、圓錐體和非球面衍射透鏡的3D測量。每個測量模式都配有復(fù)雜的數(shù)據(jù)分析工具。此外,所有標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)選項都可選。當(dāng)然,所有能使用LuphoScan測量平臺測量的材料都可用這些測量模式。

的幾個附加軟件功能能夠?qū)Σ煌愋?、非連續(xù)的光學(xué)透鏡進(jìn)行直接測量。這些測量模式主要

非球面局部透鏡測量

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